XRF / fluorescence aux rayons X

L’analyse par fluorescence X (XFA), également appelée spectroscopie de fluorescence X (XRF) (en anglais X-ray fluorescence spectroscopy, XRF spectroscopy), est une méthode d’analyse des matériaux basée sur la fluorescence X. Elle permet de déterminer la quantité de matière à analyser. C’est l’une des méthodes les plus fréquemment utilisées pour la détermination qualitative et quantitative de la composition élémentaire d’un échantillon, car les échantillons ne sont pas détruits par la mesure et aucune minéralisation n’est nécessaire. Elle est particulièrement largement utilisée dans l’industrie de transformation des métaux, pour l’analyse du verre, de la céramique et des matériaux de construction ainsi que pour l’analyse des lubrifiants et des produits pétroliers. La limite de détection est d’environ un microgramme par gramme (ppm).