Le microscope électronique à balayage (MEB) (en anglais scanning electron microscope, SEM) désigne un microscope électronique dans lequel un faisceau d’électrons est guidé (balayé) selon un modèle déterminé sur l’objet à représenter de manière agrandie et où les interactions des électrons avec l’objet sont utilisées pour produire une image de l’objet.
Les images typiquement produites par un microscope électronique à balayage sont des images de la surface de l’objet et présentent une grande profondeur de champ. Une image à balayage peut également être réalisée en transmission (en anglais scanning transmission electron microscopy, STEM), ce qui nécessite des microscopes électroniques à transmission équipés en conséquence ou des microscopes électroniques à transmission de trame dédiés.
Microscopes - Microscope électronique à balayage
Description
Le microscope électronique à balayage (MEB) (en anglais scanning electron microscope, SEM) désigne un microscope électronique dans lequel un faisceau d’électrons est guidé (balayé) selon un modèle déterminé sur l’objet à représenter de manière agrandie et où les interactions des électrons avec l’objet sont utilisées pour produire une image de l’objet.
Les images typiquement produites par un microscope électronique à balayage sont des images de la surface de l’objet et présentent une grande profondeur de champ. Une image à balayage peut également être réalisée en transmission (en anglais scanning transmission electron microscopy, STEM), ce qui nécessite des microscopes électroniques à transmission équipés en conséquence ou des microscopes électroniques à transmission de trame dédiés.
Le microscope électronique à balayage (MEB) (en anglais scanning electron microscope, SEM) désigne un microscope électronique dans lequel un faisceau d’électrons est guidé (balayé) selon un modèle déterminé sur l’objet à représenter de manière agrandie et où les interactions des électrons avec l’objet sont utilisées pour…
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