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Microscopes - Microscope électronique à balayage

Le microscope électronique à balayage (MEB) (en anglais scanning electron microscope, SEM) désigne un microscope électronique dans lequel un faisceau d’électrons est guidé (balayé) selon un modèle déterminé sur l’objet à représenter de manière agrandie et où les interactions des électrons avec l’objet sont utilisées pour produire une image de l’objet. Les images typiquement produites par un microscope électronique à balayage sont des images de la surface de l’objet et présentent une grande profondeur de champ. Une image à balayage peut également être réalisée en transmission (en anglais scanning transmission electron microscopy, STEM), ce qui nécessite des microscopes électroniques à transmission équipés en conséquence ou des microscopes électroniques à transmission de trame dédiés.

Microscopes - Microscope électronique à balayage
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Description

Le microscope électronique à balayage (MEB) (en anglais scanning electron microscope, SEM) désigne un microscope électronique dans lequel un faisceau d’électrons est guidé (balayé) selon un modèle déterminé sur l’objet à représenter de manière agrandie et où les interactions des électrons avec l’objet sont utilisées pour…
Le microscope électronique à balayage (MEB) (en anglais scanning electron microscope, SEM) désigne un microscope électronique dans lequel un faisceau…

Fournisseur

Les fournisseurs suivants proposent des produits Microscopes - Microscope électronique à balayage.

  • Avantor – VWR International GmbH
  • Thermo Fisher Scientific (Schweiz) AG
  • Leica Microsystems AG
  • Nikon GmbH
  • Portmann Instruments AG
  • Ryf AG
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